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JG-4034薄膜测厚仪
一、 概述
简单介绍：本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片。本测厚仪执行GB6672-86国际并等效符合国际标准ISO4593-1979。
二、主要参数
1.量程：0-1mm 分度值：0.001mm
2.上测头曲率半径：15-50mm
3.测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
4.测量精度：100vm以内＜1vm
100-250vm＜2vm
250vm＜3vm
| 类型 | 薄膜测厚仪 | 品牌 | 金刚 |
| 型号 | JG-4034 | 测量范围 | 0-1（mm） |
| 显示方式 | 指针式 | 电源电压 | 220（V） |
| 外形尺寸 | 80*100*80（mm） |
